2003 Prépublication d'Orsay numéro 2003-07 (07/11/2003)



HIERARCHICAL TESTING DESIGNS FOR PATTERN RECOGNITION.

BLANCHARD, Gilles - Modélisation Stochastique et Statistique, Université Paris-Sud, Bât. 425, 91405 Orsay cedex
GEMAN, Donald - Johns Hopkins University, Baltimore, MD 21218.


Mots Clés : -

Classification MSC : -


Resumé :

Abstract :

Contact : Gilles.Blanchard@math.u-psud.fr